“日本AEMIC品牌 AE-381A快速高精度MLCC电容测试仪”参数说明
元器件种类: | 片状元器件测试仪 | 型号: | Ae-381A |
规格: | 电容测试仪 | 商标: | 日本aemic |
包装: | 原厂 | 产量: | 10000 |
“日本AEMIC品牌 AE-381A快速高精度MLCC电容测试仪”详细介绍
MLCC的芯片编带机使用最佳
■ 超高速: ... 0.3毫秒[1兆赫],1毫秒[1千赫],8.34Msc [120赫兹](时间快速测量)
■ 接触故障检测探头还二端测量的测定异常检测
■ 4针接触检查可能
■ 测量频率: ±0.1%1MHz/1kHz/120Hz(正弦波)
■ 串联等效电路,并联等效电路可切换
■ 恒定电压测量(一些不符合规定的范围)
■ DF测量[0.0000~0.5000],Q测量[0-10000]可能
■ C的测量:41/2位(15000)数字显示,内置比较器功能,HI / GO / LO输出
■ RS-232C接口,打印机输出(并口标准装备)(GP-IB选项)
■ 间断地施加测量电流,以减少探针接触的磨损
■ 值被输出到打印机的测量,统计数据,日期,时间等,即使是在测
■ 接触故障检测探头还二端测量的测定异常检测
■ 4针接触检查可能
■ 测量频率: ±0.1%1MHz/1kHz/120Hz(正弦波)
■ 串联等效电路,并联等效电路可切换
■ 恒定电压测量(一些不符合规定的范围)
■ DF测量[0.0000~0.5000],Q测量[0-10000]可能
■ C的测量:41/2位(15000)数字显示,内置比较器功能,HI / GO / LO输出
■ RS-232C接口,打印机输出(并口标准装备)(GP-IB选项)
■ 间断地施加测量电流,以减少探针接触的磨损
■ 值被输出到打印机的测量,统计数据,日期,时间等,即使是在测