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“日置3506-10电容测试仪”参数说明
| 认证： | CE | 元器件种类： | 半导体器件测试仪 |
| 型号： | 3506-10 | 规格： | 电容测试仪 |
| 商标： | HIOKI | 包装： | 纸箱 |
| 体积： | 260W × 100H × 298Dmm | 显示： | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
| 输出电阻： | 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) | 测量频率： | 1kHz, 1MHz |
| 重量： | 4.8KG | 附件： | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1 |
| 测量精度： | ±0.14% rdg. | 测量参数： | C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
| 电源： | AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA | 测量量程： | 0.001fF～15.0000μF |
“日置3506-10电容测试仪”详细介绍
深圳市温德尔科技有限公司欢迎您的选购，服务热线：0755-2930482713699821085www.szwinder.com产品概要：对应1MHz测试,低容量,高精度,高速测试模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量根据BIN的测定区分容量输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。基本参数测量参数C(电容),D(损耗系数tanδ),Q(1/tanδ)测量范围C:0.001fF～15.0000μFD:0.00001～1.99999Q:0.0～19999.9基本精度(代表值)C:±0.14%rdg.D:±0.0013测量频率1kHz,1MHz测量信号电平500mV,1Vrms输出电阻1Ω(在1kHz时2.2μF以上量程),20Ω(除上述以外的量程)显示LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)测量时间1.5ms：1MHz，2.0ms：1kHz机能BIN分类测量,触发同步输出,测量条件记忆,测量值比较功能,平均值功能,Low-C拒绝功能,振动功能,电流检测监视功能,输出电压值监视功能,控制用输入输出(EXT.I/O),RS-232C接口,GP-IB接口电源AC100/120/220/240V±10%(可选择),50/60Hz,最大40VA体积及重量260W×100H×298Dmm,4.8kg附件电源线×1,电源备用保险丝×1，使用说明书×1
